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安捷伦:agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达:Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针:ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自检功能,保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份,保障数据无丢失
可测IC(集成电路)插错、插反,管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能,提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术,可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用,可对元器件进行一致性检测
的测试覆盖率和分辨率,可测光电耦合器、电位器、接插件、晶振等器件
波形显示的配合调程,测量值更加合理
ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高,功能越来越强,封装越来越小,SMT元件的增多,多层板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一个节点放一根探针变得很困难,为增加测试点,使制造费用增高;同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难,开发周期延长。
Keysight i3070 系列 6 系统提供了一个新的模拟激励和响应单元(ASRU)卡,其中包含新的数字测量电路(DMC),能够为系统提供额外的特性和提高系统模拟测试速度(可达到总模拟测试时间的20%)。
Keysight i3070 系列 6 系统可以满足这一需求。系列 6 ICT 系统采用成熟的技术精心设计,测试效率相比以前的产品大大提升。系列 6 包含久经考验的软件、硬件和编程功能,完全兼容以前的系统,并且可以执行高度可重复的测量。系列 6 ICT 还提供新的基础架构,能够允许制造商更轻松地并入外部电路以提高测试覆盖率,同时改善对外部电路的控制。深圳市木士电子有限公司二手ICT测试仪
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