卢湾销售二手ICT多功能

销售、租赁、SMT测试设备 德律泰：TRI518FV、TRI518SII、TRI5001E、TRI8100LV、 安捷伦：Agilent3070、Keysight i3070、Agilent i1000 泰瑞达：Teradyne TSLH TSLX PCBA测试飞针：TAKAYA APT-9401 APT-1400 提供工厂闲置机器及测试配件板卡回收以及维修保养安装培训等服务。 并在全国建立了强大的服务网络，确保为客户提供的服务。

销售，租赁各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、 TRI5001E、agilent3070、agilent i1000D、泰瑞达ICT、Teradyne TSLH TSLX TS124 TS128提供工厂ICT测试技术支持，的团队、质量、技术可靠、售后无忧。支持工厂闲置设备 回收、维修、升级处理，欢迎咨询,24小时在线！
安捷伦科技公司(Agilent)日前宣布其Medalist i1000D在线测试系统现已具有数字测试能力。
i1000D成为迅速成长和填补高功能性在线测试仪与低端制造缺陷分析仪间空缺的解决方案。
为向对成本敏感的制造商提供具有模拟和数字能力的解决方案，解决当前极为复杂的印制电路板组件(PCBA)各种问题，i1000D提供：
·每一引脚的编程能力
·基于数字 PCF/VCL 库的测试
·标准的内建边界扫描测试
·I2C/SPI 串行编程
·简单、的长线测试夹具
·灵活而易于使用的图形用户界面
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。

ATE测试板卡: 安捷伦agilent3070系列
XTP Control card (E9900-66501)
ASRU N Card (N1807-66550)
Hybrid DD pin car (E4000-66550)
泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car 、 PIO car、SYSTEM Controoller
检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光耦、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。
它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。

安捷伦ICT更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上，在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上
向后兼容性尽量缩短安装所需要的停机时间
泰瑞达系统整合DC、AC、Digital I/O等，信号更稳定；
开机系统初始化，测试精度、稳定度
采用信号全数字滤波处理，测试更方便
自我侦测及输出报告 快速测试，满足各种线体需要
分组块测试模式，成倍提高工作效率，节约投资
采用四针六线测试技术，排除引线电阻及探针接触电阻使微电阻测试稳定
电容极性测试技术，可测试电容极性
多管脚器件测量方式，专测多管脚器件
每步高达5针隔离，对元器件隔离测试
8U结构，轻巧稳固，适应需求
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测

深圳木士电子销售，回收各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、
TRI8100LV、TRI5001E、Agilent3070、agilent i1000D
Teradyne ICT和TAKAYA测试飞针各品牌ICT测试配件板卡，
开关板，ATM SMB.DUT.安捷伦agilent3070
XTP control card asru N
Hybrid DD pin card（E4000-66550）
泰瑞达： TeradyneTSL124/128 PIN CAR 、
PIO CAR 、System controller

的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100％真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100％。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能，可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。