九龙坡供应安捷伦二手ICT多功能

销售、租赁、SMT测试设备 德律泰：TRI518FV、TRI518SII、TRI5001E、TRI8100LV、 安捷伦：Agilent3070、Keysight i3070、Agilent i1000 泰瑞达：Teradyne TSLH TSLX PCBA测试飞针：TAKAYA APT-9401 APT-1400 提供工厂闲置机器及测试配件板卡回收以及维修保养安装培训等服务。 并在全国建立了强大的服务网络，确保为客户提供的服务。

求购以下测试设备： 德律泰：TRI8100LV 、TRI5001E 、TRI518SII 安捷伦：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c 测试机配件板卡：agilent3070 i1000 数字开关板、 XTP Control car、 ASRU CAR 泰瑞达 Teardyne pin car Ulta2 SYSTEM CONTROLLER TRI8100LV ATM Car 、pin car、 TRI5001E :ATM SMB 数字开关板、DUT电源板 以上设备测试设备和配件都打包回收， 不管设备好坏，闲置，需要处理.

安捷伦Agilent3070板卡 XTP Control card (E9900-66501) ASRU N Card (N1807-66550) Hybrid DD pin car (E4000-66550) 泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car PIO car、SYSTEM Controolle.
In—Circuit—Tester即自动在线测试仪，是现代电子企业的PCBA(Printed- Circuit Board Assembly，印刷电路板组件）生产的测试设备，ICT使用范围广，测量准确性高，对检测出的问题指示明确，即使电子技术水准一般的工人处理有问题的PCBA也非常容易。使用ICT能地提高生产效率，降低生产成本。 2． ICT Test 主要是*测试探针接触PCB layout出来的测试点来检测PCBA的线路开路、短路、所有零件的焊接情况,可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试(testjet` connect check)等其它通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个组件或开短路位于哪个点准确告诉用户。(对组件的焊接测试有较高的识别能力)

安捷伦ICT更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上，在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上
向后兼容性尽量缩短安装所需要的停机时间
泰瑞达系统整合DC、AC、Digital I/O等，信号更稳定；
开机系统初始化，测试精度、稳定度
采用信号全数字滤波处理，测试更方便
自我侦测及输出报告 快速测试，满足各种线体需要
分组块测试模式，成倍提高工作效率，节约投资
采用四针六线测试技术，排除引线电阻及探针接触电阻使微电阻测试稳定
电容极性测试技术，可测试电容极性
多管脚器件测量方式，专测多管脚器件
每步高达5针隔离，对元器件隔离测试
8U结构，轻巧稳固，适应需求
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测

深圳木士电子销售，回收各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、
TRI8100LV、TRI5001E、Agilent3070、agilent i1000D
Teradyne ICT和TAKAYA测试飞针各品牌ICT测试配件板卡，
开关板，ATM SMB.DUT.安捷伦agilent3070
XTP control card asru N
Hybrid DD pin card（E4000-66550）
泰瑞达： TeradyneTSL124/128 PIN CAR 、
PIO CAR 、System controller

的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100％真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100％。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能，可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。