关键词 |
从事二手ICT,黔东南二手ICT,二手ICT安装,TRI二手ICT |
面向地区 |
全国 |
现金求购SMT测试设备和备件:
ICT在线测试仪:德律TRI518FE、TRI518FR、TRI518II、TRI5001T
ATE功能测试仪:安捷伦Agilnt3070 Series3、Agilent3070 Series5
泰瑞达Teradyne TS124LH、Teradyne TS128LH
Teradyne Spectrum8852、8855、8951
PCBA飞针测试仪:TAKAYA7400、8400、9400、9411
ICT测试板卡:德律518系列DC板、AC板、TCB板、HP TESTJET板、开关板
德律5001系列ATM板、DTM板、SMB板、Hybrid Pin car
ATE测试板卡: 安捷伦agilent3070系列
XTP Control card (E9900-66501)
ASRU N Card (N1807-66550)
Hybrid DD pin car (E4000-66550)
泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car 、 PIO car、SYSTEM Controoller
9004-0387 Ultra 124L
9004-0386 Ultra 128L
Ultra-2 128 pin 026-001-30
Ultra-2 256 pin 026-101-90
求购以下测试设备: 德律泰:TRI8100LV 、TRI5001E 、TRI518SII 安捷伦:agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达:Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针:ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c 测试机配件板卡:agilent3070 i1000 数字开关板、 XTP Control car、 ASRU CAR 泰瑞达 Teardyne pin car Ulta2 SYSTEM CONTROLLER TRI8100LV ATM Car 、pin car、 TRI5001E :ATM SMB 数字开关板、DUT电源板 以上设备测试设备和配件都打包回收, 不管设备好坏,闲置,需要处理.
泰瑞达:Teradyne TestStation LH Teradyne TestStation LX Takaya测试飞针:APT-9401CJ APT-9411 APT-1400 以上设备整机板卡配件都回收: 安捷伦Agilent3070板卡.
ICT能够将上述故障或不良资讯以印表机印出
测试结果,包括故障位置、零件标准值、测试值,
以供维修人员参考。可以有效降低人员对产品技
术依赖度,不需对产品线路了解,照样有维修能力。
4.能够将测试不良资讯统计,生产管理人员加以
分析,可以找出各种不良的产生原因,包括人为
的因素在内,使之各个解决、完善、指正,藉以
提升电路板制造及品质能力。
正是由于ICT以上功能所带给客户的效益,
才有今天ICT得已广泛运用的现实!
1.产量增加:ICT在线测试仪的检测速度非常快,
如300个元件的线路板约3秒钟全部检测,比人工
检测时间大大缩短,产量可大大提高。
2.降低成本:
A.使维修工作简单化,维修速度加快,减少维
修人员,降低维修成本,
B.降低因误判而损坏的元件成本,
C.减少维修备品库存!
3.使产品一次良品率提高:提供大量的统计数据,
以便生产管理者对生产工艺进行及时监督,调整,管理
安捷伦ICT更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上,在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上
向后兼容性尽量缩短安装所需要的停机时间
泰瑞达系统整合DC、AC、Digital I/O等,信号更稳定;
开机系统初始化,测试精度、稳定度
采用信号全数字滤波处理,测试更方便
自我侦测及输出报告 快速测试,满足各种线体需要
分组块测试模式,成倍提高工作效率,节约投资
采用四针六线测试技术,排除引线电阻及探针接触电阻使微电阻测试稳定
电容极性测试技术,可测试电容极性
多管脚器件测量方式,专测多管脚器件
每步高达5针隔离,对元器件隔离测试
8U结构,轻巧稳固,适应需求
完善的自检功能,保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份,保障数据无丢失
可测IC(集成电路)插错、插反,管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能,提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术,可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用,可对元器件进行一致性检测
的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100%真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100%。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能,可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计,使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能,资料可自动存储,不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式,可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性,检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小,重量轻,使用灵活,符合高科科技产品轻,薄,短,小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。
为向用户提供更多 ICT 能力,Keysight 还给Agilent3070配备了从标准边界扫描和连
接测试到互联测试的全部边界扫描能力。这些能力有助于满足制造商对可边界
扫描器件的需要,以及制造商能适应未来对 Intel 基周边控制中心和处理
器增加的需求。
长线 MDA 压着夹具不适合用于数字
测试,这一观点是对还是错?
虽然一般认为这是对的,但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 证明这是错的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用传统 MDA 型
长线压着夹具执行数字测试。边界扫
描测试,串行编程,基于库的测试
都能无毛刺地运行。使用 MDA 型夹
具,用户现在就有了简单、和低
运行成本的测试解决方案