福建销售安捷伦二手ICT厂家

安捷伦Agilent3070板卡 XTP Control card (E9900-66501) ASRU N Card (N1807-66550) Hybrid DD pin car (E4000-66550) 泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car PIO car、SYSTEM Controolle.
In—Circuit—Tester即自动在线测试仪，是现代电子企业的PCBA(Printed- Circuit Board Assembly，印刷电路板组件）生产的测试设备，ICT使用范围广，测量准确性高，对检测出的问题指示明确，即使电子技术水准一般的工人处理有问题的PCBA也非常容易。使用ICT能地提高生产效率，降低生产成本。 2． ICT Test 主要是*测试探针接触PCB layout出来的测试点来检测PCBA的线路开路、短路、所有零件的焊接情况,可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试(testjet` connect check)等其它通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个组件或开短路位于哪个点准确告诉用户。(对组件的焊接测试有较高的识别能力)

泰瑞达：Teradyne TestStation LH Teradyne TestStation LX Takaya测试飞针：APT-9401CJ APT-9411 APT-1400 以上设备整机板卡配件都回收： 安捷伦Agilent3070板卡.
ICT能够将上述故障或不良资讯以印表机印出
测试结果，包括故障位置、零件标准值、测试值，
以供维修人员参考。可以有效降低人员对产品技
术依赖度，不需对产品线路了解，照样有维修能力。
4.能够将测试不良资讯统计，生产管理人员加以
分析，可以找出各种不良的产生原因，包括人为
的因素在内，使之各个解决、完善、指正，藉以
提升电路板制造及品质能力。
正是由于ICT以上功能所带给客户的效益，
才有今天ICT得已广泛运用的现实！
1．产量增加：ICT在线测试仪的检测速度非常快，
如300个元件的线路板约3秒钟全部检测，比人工
检测时间大大缩短，产量可大大提高。
2．降低成本：
A.使维修工作简单化,维修速度加快,减少维
修人员，降低维修成本,
B.降低因误判而损坏的元件成本，
C.减少维修备品库存!
3．使产品一次良品率提高：提供大量的统计数据，
以便生产管理者对生产工艺进行及时监督,调整,管理

安捷伦：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测
的测试覆盖率和分辨率，可测光电耦合器、电位器、接插件、晶振等器件
波形显示的配合调程，测量值更加合理

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。

ICT设备的制造厂家各异，主要ICT自动测试设备生产厂商主要有Agilent Technologies安捷伦(美国)，Teradyne泰瑞达(美国)、Check Sum（美国）、AEROFLEX（美国）、WINCHY莹琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并购)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系统（台湾）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安硕（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。

的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100％真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100％。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能，可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。